Тестирование интегральных схем жизненно важно для функциональности большинства электронных устройств. Микросхемы, как также известны интегральные схемы, можно найти в компьютерах, сотовых телефонах, автомобилях и практически во всем, что содержит электронные компоненты. Без тестирования как до окончательной установки, так и после установки на печатную плату, многие устройства выйдут из строя или прекратят работу раньше, чем их ожидаемый срок службы. Существует две основные категории тестирования интегральных микросхем: тестирование пластин и тестирование на уровне платы. Кроме того, тесты могут быть структурными или функциональными.
Испытание пластин или тестирование пластин производится на уровне производства до установки чипа&# 39 в конечный пункт назначения. Этот тест проводится с использованием оборудования автоматического тестирования (ATE) на полной кремниевой пластине, из которой будет вырезан квадратный кристалл чипов. Перед упаковкой окончательное тестирование проводится на уровне платы с использованием того же или аналогичного ATE, что и тестирование пластины.
