Автоматическое тестовое оборудование выполняет сложные тесты на печатных платах, интегральных микросхемах и других электронных устройствах. Тестирование обычно проводится в производственной среде, где важно автоматизированное, относительно высокоскоростное тестирование. В автоматическом испытательном оборудовании могут использоваться различные методы, в том числе проверка функциональных цепей, оптическое обследование и рентгенография. Он часто используется производителями полупроводников для тестирования микропроцессоров, микросхем памяти и аналоговых интегральных схем. Автоматизированное испытательное оборудование также используется производителями электроники для проверки правильности работы плат, систем авионики и электронных компонентов.
Устройство автоматического тестирования оборудования может быть довольно простым, выполняя всего несколько измерений напряжения и тока на тестируемой детали. Другие системы очень сложны, они выполняют десятки функциональных и параметрических испытаний с использованием различных измерительных приборов. Некоторые могут также изменить физическую среду тестируемой детали. Например, устройство может быть испытано внутри камеры, которая подвергается воздействию высокой температуры или холода под управлением компьютера. В зависимости от природы устройства, тестирование может также включать воздействие света, звука или давления.
